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Visitor eaglelt123
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注册日期: ‎02-28-2018

EMI浪涌试验致使IO失效

Hi XILINX,

近期在用Spartan6-XC6SLX9。XC6SLX9通过数据/地址总线的方式与ARM处理器进行通信,在做电磁兼容浪涌试验时,有时会将XC6SLX9的某个总线IO打坏(XC6SLX9其他部分均正常,均能正常运行),导致与ARM通信故障。XC6SLX9与ARM不在一块板卡上,中间经过了连接器。XC6SLX9通过光耦对外部输入信号进行采集,浪涌试验是在光耦上与XC6SLX9隔离的一侧注入的,浪涌电压为2000V,但是持续时间极短为us级。这种问题该如何解决?是在总线上添加ESD防护器件好还是直接用隔离器件将总线进行隔离好?还是有更好的解决方法?

谢谢!

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