Xilinx 产品设计与功能调试技巧

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Xilinx 产品设计与功能调试技巧

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BY Ivy Guo

一、什么是SEU现象

由于高能粒子的撞击,器件的存储单元内容有可能受到干扰,甚至出现翻转。这种单个存储单元的翻转现象(原有内容为0的变成1;或者原有为1的变成了0)就称为SEU (Single Event Upset)。

正常情况下,SEU现象不会导致器件的永久性损坏,并且通过重新配置器件即可纠正。但是如果错误位置位于设计的核心区域,或者错误随逻辑构建的功能模块逐级传递出去,均会导致设计异常。

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